磁控濺射制備Ta-Cr非晶合金鍍層及其性能
本文采用真空磁控濺射法,采用雙靶共濺射法,通過調(diào)節(jié)濺射功率制備了不同鉭含量的Ta-Cr二元非晶合金涂層,并對涂層的表觀形貌和物理性能進(jìn)行了研究。研究過。的特征。研究了鉭含量對涂層力學(xué)性能和耐腐蝕性能的影響。
1.試驗(yàn)部分
1.1 Ta-Cr涂層的制備
涂層基體為炮鋼P(yáng)CrNi3MoVA,其化學(xué)組成如表1所示。采用電火花線切割機(jī)切割成尺寸為18mm x 10mm x5mm的長方體小樣品;樣品依次經(jīng)SiC砂紙打磨(#600、#1000、#2000)、金剛石研磨膏拋光(W2. 5、W1.5和W0. 5),表面最終態(tài)呈鏡面拋光;依次使用去離子水、乙醇、丙酮超聲波清洗拋光樣品,時(shí)長均為5min ;樣品經(jīng)干燥后待用。

Ta靶材和Cr靶材的純度均為99. 99%,其尺寸均為φ50. 8mm x 3mm;工作氣體是純度為99. 999%的高純Ar。采用QHV-JGP400B II型(內(nèi)含四組靶基座)真空磁控濺射鍍膜機(jī)進(jìn)行磁控濺射制備Ta-Cr合金涂層,真空室的本底真空度為3.0x10-3Pa。
在濺射過程中,分別采用射頻電源磁控濺射Ta靶材、直流電源磁控濺射Cr靶材,實(shí)施雙靶共濺射,靶基距均為60mm,樣品架轉(zhuǎn)速為15 r/min,樣品架的加熱溫度維持在350℃, 其他鍍膜工藝參數(shù)為:Ar氣體流量20sccm;工作氣壓0. 5Pa;濺射時(shí)間120min。保持其他工藝條件不變,僅改變Ta靶和 Cr靶的濺射功率,制備不同Ta含量的Ta-Cr合金涂層,雙靶功率P與涂層Ta含量的對應(yīng)關(guān)系見表 2所示。

1.2 測試分析
利用XRD射線衍射儀分析涂層的物相組成;利用SEM掃描電子顯微鏡觀察涂層的表面、斷面形貌及膜層厚度,并用EDS能譜儀分析涂層的元素組成;采用同步熱分析儀測試 涂層從室溫至1000℃ 加熱過程中的DSC曲線。
采用納米壓痕儀測量 Ta-Cr 涂層的納米力學(xué)性能,使用金剛石壓頭,泊松比為0. 27, 最大壓入深度800nm,在Ta-Cr涂層表面隨機(jī)選取8處位置進(jìn)行測試,任意兩處位點(diǎn)的距離大于10um,取8處測試數(shù)據(jù)的平均值作為涂層硬度與彈性模量的測試值。
利用電化學(xué)工作站,采用三電極測試體系,測試 Ta-Cr 涂層在3. 5wt%的NaCl溶液中的極化曲線。工作電極是 Ta-Cr 涂層,有效面積為1. 8cm2,非測試表面由亞克力封裝,輔助電極是φ2mm的石墨棒,參比電極是Ag/AgCl電極(飽和KC1)。測試前,樣品在NaCl溶液中浸泡10min,使樣品的開路電位穩(wěn)定。采用動電位方式進(jìn)行測試,室溫,掃描速率為1mV/s。 采用軟件對極化曲線中Tafel區(qū)域進(jìn) 行數(shù)據(jù)擬合,得到自腐蝕電位Ecorr .自腐蝕電流密 度Jcorr和Tafel斜率等。
2 結(jié)果與討論
2.1 表觀形貌
圖1為不同Ta含量的 Ta-Cr 合金涂層的表觀形貌。
由圖1a ~1c中不同Ta含量的 Ta-Cr 合金涂層的表觀形貌可以看出,三種 Ta-Cr 涂層均沒有明顯的孔洞或其他缺陷,表面平整且致密,均由等軸晶粒所組成。
由圖1d中 Ta60 Cr40涂層的截面形貌可以看出,Ta60 Cr40涂層與基體界面結(jié)合緊密,未見明顯缺陷,該涂層與基體的結(jié)合力良好。根據(jù)涂層的截面形貌測量可知,Ta50 Cr50、Ta60 Cr40(見圖1d)和Ta50 Cr30涂層厚度分別為2. 0um、2. 6um和 2. 8um,Ta50 Cr50、Ta70 Cr30 涂層的截面形貌因與圖1 d所示Ta60Cr40涂層的截面形貌非常相似,文中未給出。
結(jié)合膜厚值與表2分析可知,隨著Ta靶的射頻濺射功率PTa靶增大(自120W增加至180W)和Cr靶的直流濺射功率PCr靶減?。ㄗ?0W降低至20W),即雙靶濺射總功率P總(P總=PTa靶+ PCr靶)增大,涂層厚度增加,從2. 0um增加至2. 8um,同時(shí)Ta含量從50%上升至70%。因此,只需合理設(shè)定雙靶濺射功率(PTa靶和PCr靶)即可制備某一預(yù)設(shè)成分的Ta-Cr合金涂層。
2.2 物相組成
圖2為不同Ta含量Ta-Cr合金涂層的XRD譜

由Cr-Ta二元合金相圖可知,當(dāng)Ta含量為50% ~70%時(shí),經(jīng)平衡凝固獲得的Cr-Ta二元合金,其室溫組織應(yīng)由高溫變體Cr2Ta (HT)和a-Ta兩相組成。由圖2可以看出,衍射角在35° - 45°之間的衍射峰為具備寬反射特征的“饅頭峰”, 該特征峰一般由具有非晶態(tài)相或不定型的物質(zhì)發(fā) 生X射線衍射形成。當(dāng)Ta含量為50%和 60%時(shí),Ta-Cr合金涂層由非晶態(tài)相和Cr晶相組成,此時(shí)Cr相沿著(111)晶面擇優(yōu)取向生長;當(dāng) Ta含量為70at%時(shí),Cr相沿著(110)晶面擇優(yōu)取向生長。
在Ta、Cr雙靶的的共濺射過程中,Cr靶經(jīng)直流磁控濺射的累計(jì)沉積時(shí)間比射頻磁控濺射Ta靶(頻率為13. 56MHz)的時(shí)間更長,此外Cr涂層的晶化溫度為-53. 15℃,遠(yuǎn)低于涂層基體沉積時(shí)的加熱溫度(350℃),這些都是促進(jìn)晶態(tài)Cr形成的原因。
圖3為Ta50 Cr50合金涂層的DSC曲線。由圖 3可以看出,Ta50 Cr50非晶態(tài)二元合金涂層在 374℃開始發(fā)生晶化。當(dāng)基體沉積時(shí)的加熱溫度低于薄膜的晶化溫度時(shí),薄膜將以非晶態(tài)相形式沉積在該基體上。本文研究中基體溫度為350℃,低于Ta-Cr非晶態(tài)涂層的晶化溫度(Tx)374℃,因此Ta-Cr合金涂層具有非晶態(tài)相。研究結(jié)果說明,當(dāng)濺射沉積過程沒有加熱時(shí),Cr含量在10% ~82%之間的Ta-Cr涂層易出現(xiàn)非晶態(tài)結(jié)構(gòu),本文研究結(jié)果與此相符。

2.3 納米力學(xué)性能
測試得到不同Ta含量的Ta-Cr涂層硬度與彈性模量如圖4所示。

由圖4可見,當(dāng)Ta含量分別為50%、60%和 70%時(shí),Ta-Cr涂層的硬度分別為14. 2GPa、 12. 0GPa和11.4GPa,彈性模量分別為205. 2GPa、 180. 5GPa和178. 3GPa,表明涂層的硬度與彈性模量均隨Ta含量的升高而降低。大部分Ta-Cr非晶態(tài)涂層的硬度高于單質(zhì)金屬涂層(Ta或Cr),但是隨著Ta含量不斷降低,合金涂層的硬度因質(zhì)軟的Cr晶相不斷增多而降低,當(dāng)Ta含量約為一半(47%)時(shí),Ta-Cr合金涂層的硬度因近非晶態(tài)相的存在而被強(qiáng)化,達(dá)到最大值(15. 1 GPa)。
按照Ta含量的變化間隔為8% ~10%對Ta-Cr合金涂層進(jìn)行取樣, 因樣本數(shù)量有限而難以獲取與涂層最大硬度相對應(yīng)Ta含量的精確范圍。
因此,本文研究結(jié)果與此結(jié)果基本一致,即Ta-Cr非晶態(tài)涂層在Ta含量約為一半(50%)時(shí)具有最大的硬度與彈性模量。

由彈性模量E計(jì)算有效彈性模量E *,計(jì)算公式為 E* = E/(1 - v2),v為涂層的泊松比。
同時(shí)計(jì)算得到H/E( H為涂層的硬度)和H3/ E*2,繪制H/E和H3/E*2隨涂層中Ta含量的變化曲線如圖5所示。

由圖5可見,Ta-Cr涂層的H/E值和H3/E*2值均隨著Ta含量增大而降低,其中 Ta50 Cr50 的剛度(H/E)與韌性(H3/E*2)最佳。涂層剛度越高,同時(shí)H3/E*2值越大,涂層韌性越高,本文研究結(jié)果與之相符。
2.4 極化曲線
圖6 為在3. 5%NaCl溶液中Ta-Cr涂層的極 化曲線。
表3是由圖6所示極化曲線得到的Tafel擬合數(shù)據(jù)。


由圖6和表3可以看出,Ta50 Cr50、Ta60 Cr40、Ta70 Cr30的Ecorr比較接近,Ta70 Cr30涂層的Jcorr最大,為1.043uA/cm2, Ta60 Cr40涂層的人Jcorr最小,為 0. 588uA/cm2,表明Ta50 Cr50、Ta60 Cr40、Ta70 Cr30三種涂層均具有相同量級的如,耐蝕性均較好,其中Ta60 Cr40涂層的耐蝕性最好。
3 結(jié)論
(1) 通過調(diào)控雙靶的濺射功率制備出三種成分的 Ta-Cr 合金涂層 Ta50 Cr50、Ta60 Cr40 和 Ta70 Cr30,涂層表面形貌平整、光滑、致密,因其晶化溫度高而易形成非晶態(tài)組織,同時(shí)伴有Cr晶相。
(2) 三種Ta-Cr合金涂層隨著Ta含量降低,Ta-Cr涂層的硬度、彈性模量與韌性均升高。
(3) 三種Ta-Cr合金涂層均具有較好的耐腐蝕性,其中Ta60 Cr40涂層耐腐蝕性最佳。
摘自——沈陽理工大學(xué)學(xué)報(bào)
發(fā)表時(shí)間:2023-03-20 13:47